SEC的RAY相關(guān)技術(shù)處于行業(yè)前沿，本次在展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品，主要用于半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測(cè)設(shè)備，最大可實(shí)現(xiàn)550 x 650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測(cè)。
該產(chǎn)品搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測(cè)設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用戶可根據(jù)需求選擇Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)進(jìn)行3D影像檢測(cè)，分析出不良的種類、位置及大小。此外，該產(chǎn)品可搭載Option自動(dòng)檢測(cè)S/W，通過(guò)手動(dòng)裝料后的自動(dòng)檢測(cè)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢；還可搭載長(zhǎng)壽命Filament，適用于量產(chǎn)檢測(cè)。
不斷挑戰(zhàn) 不斷突破
SEC意為“Superior Service & Exciting Challenge”，公司在各個(gè)方面為用戶提供高質(zhì)量的服務(wù)，并為滿足用戶的需求而不斷進(jìn)行改進(jìn)和挑戰(zhàn)。隨著科技的不斷進(jìn)步和市場(chǎng)的日益擴(kuò)大，高精密電子工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的需求也在不斷增加。SEC將繼續(xù)發(fā)揮其在研發(fā)和生產(chǎn)方面的優(yōu)勢(shì)，為全球用戶帶來(lái)更多驚喜和突破。
