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標題: x射線光電子能譜儀可以測什么 [打印本頁]

作者: 機械儀器 時間: 2025-7-18 11:58
標題: x射線光電子能譜儀可以測什么
X射線光電子能譜儀（XPS）是一種強大的表面分析技術，可測量材料表面以下約1-10納米的化學信息。其核心功能包括：
元素組成分析：通過檢測光電子動能，確定表面元素種類（除氫、氦外），靈敏度達0.1%原子濃度。
化學態鑒定：根據元素化學環境導致的結合能偏移（如氧化態、配位狀態），區分金屬、氧化物、硫化物等形態。
定量分析：通過光電子峰強度計算元素相對含量，支持半定量或定量分析。
深度剖析：結合離子束濺射，逐層剝離表面，獲取元素或化學態隨深度的分布。
污染與腐蝕研究：檢測表面吸附物、氧化層或污染物，評估材料耐蝕性。
應用領域涵蓋材料科學（如催化劑、涂層）、半導體（界面反應）、能源（電池電極降解）及生物醫學（生物材料表面修飾）等，是研究表面化學性質的關鍵工具。

作者: 姚希KUA！ 時間: 2025-12-1 00:05
樓主的帖子總是那么有價值，讓我每次閱讀都能有所收獲。

作者: 霜焰戰士 時間: 2025-12-1 08:39
這個討論很有價值，期待更多的精彩發言。

作者: 33para 時間: 4 天前
這個問題挺有意思的，加入討論。

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