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標題: 掃描電鏡與透射電子顯微鏡有什么區(qū)別? [打印本頁]

作者: 向前儀器 時間: 2025-3-19 13:36
標題: 掃描電鏡與透射電子顯微鏡有什么區(qū)別?
掃描電鏡與透射電子顯微鏡有什么區(qū)別?

作者: 七喜 時間: 2025-3-25 23:09
看到您的帖子真是受益匪淺，謝謝！

作者: jiusan 時間: 2025-5-20 11:19
感謝分享，我已經(jīng)收藏了。

作者: 益豐儀器 時間: 2025-5-20 13:40
掃描電鏡（SEM）與透射電子顯微鏡（TEM）在原理、結(jié)構(gòu)和應用上有顯著區(qū)別，具體對比如下：
1. 成像原理
- SEM：利用電子束掃描樣品表面，激發(fā)二次電子、背散射電子等信號，通過探測器收集信號強度差異成像，反映樣品表面形貌和成分分布（分辨率約1~10 nm）。
- TEM：電子束穿透超薄樣品（厚度＜100 nm），通過樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)對電子的散射和衍射差異成像，顯示內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)（如晶體缺陷、納米材料內(nèi)部組成），分辨率可達原子級（0.1 nm以下）。
2. 樣品制備
- SEM：樣品需導電（非導電樣品需噴金處理），可觀察塊狀、粉末狀樣品，制備簡單（切割、固定、干燥即可）。
- TEM：需制備納米級超薄切片（常用金剛石刀切片或離子減薄），或分散在銅網(wǎng)上的納米顆粒/薄膜，制備技術(shù)要求高。
3. 觀察范圍與應用
- SEM：適合觀察樣品表面三維形貌（如斷口、顆粒輪廓）、鍍層均勻性等，廣泛用于材料科學、地質(zhì)、半導體質(zhì)檢等領(lǐng)域。
- TEM：用于分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)（如晶粒尺寸、相變產(chǎn)物）、生物大分子（病毒、蛋白質(zhì)復合體）及納米材料（量子點、碳納米管）的精細結(jié)構(gòu)，是納米科技和生物學的核心工具。
4. 設(shè)備結(jié)構(gòu)
- SEM：電子槍加速電壓較低（1~30 kV），配備掃描線圈和多個信號探測器，樣品室空間較大。
- TEM：加速電壓更高（50~300 kV），需多級電磁透鏡聚焦電子束，樣品臺尺寸微小，常搭配電子衍射裝置分析晶體結(jié)構(gòu)。
簡言之，SEM側(cè)重表面形貌的宏觀觀察，TEM專注內(nèi)部結(jié)構(gòu)的微觀解析，二者互補應用于材料表征。

作者: 蔚藍儀器 時間: 2025-5-20 18:34
掃描電鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）是兩種常見的電子顯微鏡，它們有以下主要區(qū)別：

工作原理：

掃描電鏡（SEM）：通過聚焦電子束掃描樣品表面，檢測從樣品表面反射或二次發(fā)射的電子。它主要用于觀察樣品的表面形貌和表面結(jié)構(gòu)。
透射電子顯微鏡（TEM）：電子束通過樣品，經(jīng)過透射后被探測器接收。它主要用于觀察樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和微觀細節(jié)。
樣品準備：

SEM：樣品一般不需要薄化，但需要導電處理（如噴金）以避免電荷積累。
TEM：樣品需要非常薄，通常薄到幾十到幾百納米，以便電子能夠透過。
分辨率：

SEM：分辨率一般較低，通常在1納米到幾納米之間，適用于觀察表面結(jié)構(gòu)。
TEM：分辨率高，能達到亞納米級別，適合觀察細胞結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)等細節(jié)。
成像方式：

SEM：顯示的是樣品的表面三維圖像，能提供較直觀的表面結(jié)構(gòu)信息。
TEM：顯示的是樣品內(nèi)部的二維投影圖像，可以觀察到更詳細的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
應用領(lǐng)域：

SEM：常用于材料科學、納米技術(shù)、生物學等領(lǐng)域，尤其是觀察樣品表面形貌。
TEM：常用于需要深入觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的領(lǐng)域，如納米技術(shù)、細胞學、物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)等。
總的來說，SEM主要用于觀察樣品的表面，而TEM則適用于研究樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和更高分辨率的細節(jié)。

作者: 奧爾良雞腿堡 時間: 2025-11-21 16:08
樓主總結(jié)得很全面，點贊！

作者: 阿斯達 時間: 2025-12-4 17:37
這個觀點很有啟發(fā)性，期待后續(xù)的討論。

作者: 旺旺小小酥 時間: 2025-12-5 23:49
這個觀點很獨特，值得深思。

作者: mn8875 時間: 6 天前
感謝你的耐心解答，我明白了很多！

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